压敏电阻采购,就选源林电子,自有工厂
ZnO压敏电阻器的结构:
晶粒体为电阻率很低的半导体,晶界为绝缘体,类似边界层电容器,另在晶界形成两背靠背的肖特基势垒。因邻近晶粒的取向不同,两晶粒交界处结构松弛,杂质占据这些位置比占据体内晶格位置的能量低,所以容易在晶界偏析。
源林电子是一家专业研发、生产压敏电阻的高科技电子元器件企业。主营压敏电阻、热敏电阻和温度传感器,自有研发团队,厂家直销!
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老化机理:
曾经被认为是老化的起因的有电子陷阱,偶极子转向,氧脱附和离子迁移,目前能证实的只有填隙锌离子迁移。一般认为老化是晶界现象,是由于耗尽层内离子迁移,而Zni是主要的迁移离子。
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残压比KR
通过压敏电阻器的电流为某一值时,在它两端所产生的电压称为这一电流值的残压。残压比则是残压与标称电压之比。
残压比KR的定义公式为:
KR =UR/UN
残压比可以比较直观地反应出压敏电阻限制过电压的能力,在压敏材料的研究工作中已得到广泛的应用,在防雷压敏电阻、避雷器阀片和高能型压敏电阻阀片中以成为标准电性能参数。
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